运动控制卡MP3100
在使用传统的半导体分选机时,芯片会被下压至测试所用的测试站内。而在测试站的每一个工位上,都会搭配一个下压的伺服电机。如今,电子设备日益朝着轻薄型方向发展,电子芯片也随之轻薄。伺服电机下压的动作很可能会导致芯片内部发生破损,甚至碎裂,从而影响设备成品率以及稳定性。为此,安川提供了通过伺服端进行碰撞检测的解决方案。
①使用MP3100运动控制器与Σ-7 Y3503型伺服驱动器(M-Ⅲ通信型)。在保证客户运行速度的同时,确保芯片在发生碰撞时能够即时发出报警并且停止电机,在一定程度上防止碰撞导致的芯片损坏。
②在碰撞检测功能的基础上,进一步开发出压力一定控制功能。当测试站需要一定压力以保证测试运行时,通过配套参数的设置,可以做到在下压时维持一定的压力。
采用安川整体解决方案后的设备特性:
高速性:通过伺服的高速响应提高设备的整体速度。
稳定性:碰撞检测+压力一定控制功能,为设备的良品率提供保障。
便利性:多套压力参数可以通过通信方式在线写入,为切换检测材料提供便利。
分选机常用的带碰撞检测功能的伺服驱动器型号:
①SGD7S-R90A*0AY3503
②SGD7S-1R6A*0AY3503
※具体型号请向供应商或者安川电机(中国)有限公司咨询
安川电机的运动控制产品运用于多个行业,可以满足客户的多种需求。除了上述面向半导体行业的定制功能外,我们还在开发面向半导体行业的高加减速的DD马达。
若您的设备有专用需求,请积极与我们联系。我们愿意为客户开发定制功能,向客户提供适合的解决方案!
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